AFM样品位移和扫面台 AFM探头 高分辨光学亮场显微镜 AFM-Tip照明和光收集单元 近场光学指标
由于近场光学显微镜对环境条件要求低,以及已有的成熟的光盘技术基础,因此,它已成为各种近场高密度信息存储技术的强有力的竞争者。提高信息存储密度是科研和工业界极为关注的重大问题。目前的光学及磁光读写方式采用的是远场技术,由于受衍射极限的限制,读写斑的尺寸被控制在1 mm左右,存储密度约为55 Mbit/cm2, 并且使用较短的激光波长对存储密度提高不大。而近场光学的发展提供了一种新的原理。由于扫描近场光学显微镜能突破衍射极限的限制,因而大大提高了存储密度。
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