1.测试系统包含测试回路数量≥6路，加热回路数量≥6路，各通道完全独立，支持多阵列同时测试，适用器件包括陶瓷管型器件、平面四角型器件、MEMS型器件等。 2.测试回路：≥100Ω-400MΩ，测量精度：≤读数的±0.5%。（提供包含有设备图片和功能截图的技术证明文件）。 3.加热回路：1-400 mA，精度≤1mA；支持8路器件独立或者统一设置。（提供包含有设备图片和功能截图的技术证明文件）。 4.采集间隔：≥100-1000ms，连续可调。 5.采集时间：≥36000s，连续可调。 6.配置要求：有机玻璃罩1个，腔室体积：≥5L，含注气口1个，注液口1个以及配套防漏堵头，配置液体蒸发器：1个，自带风扇2个，用于辅助混气，支持气体稀释配气、液体蒸发配气。 7.配置漫反射原位池1个，漫反射原位池窗口设计：3窗口；KBr光学窗口2个；石英观察窗口1个，可引入外部光源；窗片易更换。 8.漫反射原位池气路设计：2气路；支持与配气及控湿模块联用。 9.漫反射原位池加热设计：热台加热，K型热电偶测温；配置水冷管道和2个水循环接口，高温时水冷保护腔体。

用于各类商用电阻型传感器材料、器件及阵列的全自动测试，系统为传感器研究提供精准的电学测量、加热电流、光激发控制和以及动静态气氛和湿度氛围、原位红外-电学检测模块。

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