能量分辨率:300KV的分辨率<0.3eV ;80KV的分辨率<0.3eV;高速2048 x 64 x 18μm CMOS探测器;BF/DF探测器;双EELS探测系统;100 ns 静电快门; 实时ZLP稳定; 实时STEM-EELS 面分布。工作电压:40kV~300kV,80KV和300KV 下的能谱应用调整。
通过对不同能量损失的电子进行谱学分析,对材料的元素分布、化学价态、电子结构等信息进行表征。
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