1、高功率源测量单元 (HPSMU) ？ 高达 200 V / 1 A ？ 4档量程：200v /50mA；100V/125mA；40V/500mA；20V/1A ？ 最小 10 fA / 2μV 分辨率 最小 100 μs 采样率 (时域)测量 最小脉宽 500 μs, 100 μs分辨率 准静态电容电压 (QSCV)测量, 具有泄漏电流补偿 4 象限工作 Kelvin (4 线)连接 点测量、扫描测量和其他能力 2、中功率源测量单元 (MPSMU) ？ 高达 100 V / 0.1 A ？ 3档量程：100v /20mA；40V/50mA；20V/100mA ？ 最小 10 fA / 0.5μV 分辨率 3、前置放大器开关 电流最小分辨率 0.1 fA，可以不换线进行IV/CV测试切换 超快脉冲测量 4、波形发生器/快速测量单元 (WGFMU) ？ 用于波形生成的 10 ns 程控分辨率 ？ 200 MSa/s 同时高速测量 ？ 10 V 峰峰值输出 ？ 无负载线效应; 使用 SMU 技术进行精确的脉冲 IV 测量 ？ 支持 NBTI/PBTI、RTN 等先进应用脉冲生成 5、配置器件测试盒 6、测试软件 （1）内置丰富的元器件测试库。超过 300 种应用测试，可以从程序库中按照器件类型和指定测量 （2）支持数据自动存储记录及历史测试数据导入。 (3) 四种测试模式：快速测试，经典测试，应用测试，曲线追踪仪。具备模拟晶体管图示仪曲线追踪功能 （4）测试软件参数库：软件内置CMOS的典型静态参数测试及分析库，同时可内置算法并计算相关参数 7、多通道SMU扫描，您能以电流模式和电压模式的任意组合同步地扫描所有SMU, 也能在所有SMU 上进行同时的并行测量。 8、提取建模参数，B1500A 支持所有常见的软件建模工具，包括Agilent ICCAP, ProPlusDesign Solution BSIMProPlus 和Silvaco UTMOST。您可以在无需编程或者与仪器互动的情况下，通过使用这些工具，利用B1500A的高精度和高分辨率提取极精确的建模参数。

此设备主要用于教学和研发，分析半导体器件，微电子器件，还对诸如氧化层厚度栅面积、串联电阻、平带电容，电压、开启电压、搀杂浓度，激子寿命，可动电荷等工艺参数进行分析。测试二极管、三极管、可控硅管、场效应管和三端稳压器件等半导体器件，进行直流参数的测试和分析，进行合格/不合格判断，对器件进行分选。

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