购置日期：
2014-04-01
入网日期：
2021-11-04
资产负责人：
韩倩
购置日期：
2014-04-01
仪器价格：
598.27
仪器产地：
美国
分类号：
010499
出厂日期：
2014-04-01
主要规格及技术指标:
1.信息分辨率极限:U-TWIN 0.12nm;S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm;2.点分辨率: U-TWIN 0.19nm; S-TWIN 0.24nm; X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm 3.高分辨STEM分辨率: U-TWIN 0.14nm;S-TWIN 0.19nm; X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm 4.加速电压 20-200kV,连续可调 5.电子束能量色散 0.7eV 6.最大束流 100nA. 1nm束斑最大束流0.5nA;7.样品最大倾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°Tomography样品杆 +/- 70o
主要功能及特色:
广泛应用于工农业生产、材料学、考古学、生物学、组织学、病毒学、病理学和分子生物学等研究领。可对金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材料、催化剂等材料进行微观形貌、晶体结构、晶体缺陷、晶粒晶向及成份分析。Tecnai G2 F20将各种透射电镜技术，包括TEM、HR-TEM、STEM、电子衍射、EDS、三维重构技术集于一身，配合相应的制样系统，可实现对不同材料的结构表征。
主要附件及配置:
无
| 公告名称 | 公告内容 | 发布日期 |
|---|
校外计样：常规形貌，300 -- 校内计时：100
高分辨，400 -- 100
能谱，1000 -- 150
STEM，1000 -- 150